GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验为GB/T 17626 电磁兼容 试验和测量技术系列标准的第三部分。
     GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验适用于电气、电子设备的电磁场辐射抗扰度试验，它规定了试验等机构和必要的试验程序。
     本部分的目的是建立电气、电子设备受到射频电磁场辐射时的性能评定依据。本部分第5章固定的频率以外不需要进行试验。对某些将来可能出现的无线电方面的新业务可能会降低电气和电子设备的性能，因此有可能其他的频段也规定试验等级。
     本部分适用于一般目的的用的抗干扰度试验，对防止数字无线电话的射频辐射有专门规定。
     GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验并不对具体设备或系统的试验作规定。本部分的主要目的是为有关专业表转化技术委员会提供一个通用的基础标准，制定产品标准时应该根据其产品选择合适的试验等级。
     GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验等同采用国际标准IEC61000-4-3:2002（第2.1版本）《电磁兼容 试验和测量量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》，该标准基于IEC 61000-4-3:2002（第2版）+修正案A1（2002）制定。
     GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验依据GB/T 20000.2-2001《标准化工作指南 第2部分：采用国际标准的规则》进行下列编辑性修改；删除IEC61000-4-3:2002（第2.1版本）的前言和引言，并将有关内容写入本部分前言中。
     GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验自实施之日起代替GB/T 17626.3-1998《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》。

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